
ME7848A0140
Anritsu
Optoelektronik Ağ Analizörü Sistemi, 40 GHz, 850 nm, O/E dedektörlü
VectorStar opto-elektronik ağ analizörü (ONA) serisi, 850, 1310 ve 1550 nm dalga boylarında çalışan O/E, E/O ve O/O cihazları için 110 GHz’e kadar spesifik ve izlenebilir ölçümler sunar
VectorStar ME7848A opto-elektronik ağ analizörü (ONA) 850, 1310 ve 1550 nm dalga boylarında çalışan O/E, E/O ve O/O cihazlarının optik ölçümleri için modüler bir yaklaşım sağlar. İki konfigürasyon mevcuttur: VectorStar ME7848A-100 serisi MN4765B O/E kalibrasyon modülünü içerir ve VectorStar ME7848A-200 serisi MN4775A E/O dönüştürücüsünü ekler.
VectorStar ME7848A-200 serisi, MN4765B O/E kalibrasyon modülü tarafından belirlenen izlenebilir ölçümlerle O/E, E/O ve O/O ölçümleri arasında hızlı bir şekilde geçiş yapma olanağı sağlar.
VectorStar ME7848A ONA, uygun MN4775A E/O dönüştürücü ve MN4765B O/E kalibrasyon dedektörü eklenerek farklı dalga boylarına kolayca değiştirilebilir. VectorStar ME7838A-100 serisi, uygun MN4775A E/O dönüştürücü eklenerek 200 serisine yükseltilebilir.
Ölçüm Kabiliyetleri
İki modülatörün eklenmesiyle VectorStar, 110 GHz O/E fotodetektör ile birlikte aşağıdaki ölçümleri yapabilmektedir. Yükseltilebilirlik, opto-elektronik ve E/E ölçümleri yapma esnekliği ve referans kalibrasyon fotodetektöründe NIST izlenebilirliği gibi 70 GHz sisteminde sahip olduğumuz avantajlar 110 GHz sistemi için de geçerlidir.
- Duyarlılık parametreleri (frekans yanıtı, dönüşüm verimliliği, alıcının kazancı, vb.)
- Transfer fonksiyonları
- Grup gecikme ölçümleri
- Optik kayıplar
- Dengeli ölçümler (diferansiyel elektro-optik cihazlar için dört portlu diferansiyel frekans yanıtı, kazanç vb.)
- E/E ölçümleri (S11/S22)
Opto-Elektronik Özellikler
- Hızlı ve doğru opto-elektronik ölçümler — VectorStar ME7848A 200 serisi ONA, E/O ve O/E bileşenlerinin ve alt sistemlerinin hata düzeltmeli transfer fonksiyonu, grup gecikmesi ve geri dönüş kaybı ölçümlerini sağlar.
- MN4765B O/E kalibrasyon modülü — O/E kalibrasyon modülü, sıcaklıktaki sapmayı ortadan kaldırabilen termal olarak stabilize edilmiş bir fotodiyot referans standart dedektörüdür. Fotodiyoda giden doğru ön gerilim dahili olarak korunur.
- MN4775A E/O dönüştürücü — E/O dönüştürücü, tam otomatik bir bias kontrolörü ve ayarlanabilir veya sabit dalga boylu bir lazer kaynağı ile stabilize edilen bir lityum niobat (LiNbO3) modülatörü içerir. Mükemmel dönüştürücü kararlılığı, opto-elektronik DUT dedektörlerinin ve alıcılarının ölçümü sırasında özelliklerin tutarlı kalmasını sağlar.
- Ulusal Standartlar ve Teknoloji Enstitüsü (NIST) tarafından türetilen karakterizasyon — O/E kalibrasyon modülünün büyüklük ve faz karakterizasyonu, NIST tarafından karakterize edilen ve Anritsu Kalibrasyon Laboratuvarında tutulan birincil standart kullanılarak elde edilir.
- Basitleştirilmiş kalibrasyon için dahili VNA de-embedding — Yerleşik uygulama menüleri, E/O, O/O ve O/E ölçümleri yapmak için gereken kurulum ve kalibrasyonlar boyunca kullanıcıya rehberlik eden talimatlar sağlar.
- Mükemmel stabilite ve tekrarlanabilirlik — De-embedding ile tam 12 dönem kalibrasyonun kullanılması, VectorStar VNA kullanılarak opto-elektronik cihazların kararlı ve tekrarlanabilir ölçümleriyle sonuçlanır.
- Modülerlik ve yükseltilebilirlik — VectorStar ME7848A ONA, uygun MN4775A E/O dönüştürücü ve MN4765B O/E kalibrasyon dedektörü eklenerek farklı bir dalga boyuna kolayca değiştirilebilir. VectorStar ME7838A 100 serisi, uygun MN4775A E/O dönüştürücü eklenerek 200 serisine yükseltilebilir.
Spektrum Analizörü Seçeneği
- SPA 70KHz’den 20/40/70/110/125/145 ve 220GHz’e kadar mevcuttur. Ayrıca 1.1THz’e kadar bantlı yapılandırma için de mevcuttur.
- Çift SPA modu mevcuttur: Mikserler / Amplifikatör / Harmonikler / Sahte testler için uygundur.
- SPA tüm portlarda kullanılabilir. Kullanıcı hangi portun SPA portu olarak kullanılacağını tanımlayabilir.
- Klasik modda çeşitli algılama türleri mevcuttur: Tepe, minimum, RMS, Ortalama.
- SPA modunda Min hold/max hold/ kullanıcı tanımlı denklemler gibi çeşitli matematik fonksiyonları uygulanabilir.
- Kaynaklar ve alıcılar bağımsız olarak yapılandırılabilir. İzleme Jeneratörü olarak kullanılabilir.
- Çift kaynağa sahip üniteler için çift sürücü seçeneği mevcuttur. Harici kaynak kontrolü desteği de mümkündür.
- Çift kaynaklı üniteler için faz senkronizasyonu mevcuttur. Bu özellik, kullanıcıların iki kaynak arasındaki fazı kontrol etmesine ve yapılandırmasına olanak tanır.
- VNA’da bulunan kaynak ve alıcı zayıflatıcısı SPA modunda etkinleştirilebilir. Yüksek güçlü cihazların spektrum içeriğini ölçmek için seçenek 62’nin (alıcı tarafında zayıflatıcı ile) kullanılması önerilir.
- Yazılım seçeneği: mevcut kullanıcı ekipmanını kurmak ve yükseltmek kolaydır.
Diğer Özellikler
- Tek bir cihazda 70 kHz ila 70 GHz ve Geniş Bant konfigürasyonunda 70 kHz ila 145 GHz’i kapsayan tek bir koaksiyel test portundan en geniş frekans aralığı. 1,1 THz’ye kadar genişletilebilir
- Universal Fixture Extraction (UFX) yazılım seçeneği, test fikstürü çıkarma için gelişmiş de-embedding araçları sağlar.
- Dahili birleştirici seçeneği ile birleştirilmiş IMDView™ yazılımı, tek bir bağlantıda S parametrelerinden IMD ölçümlerine geçme olanağı sunar
- En yüksek performanslı darbe ölçümleri – PulseView™ 100 dB dinamik aralık ile 2,5 ns darbe çözünürlüğü sunar
- DifferentialView™ analizini kullanarak 4 portlu tek uçlu veya dengeli ölçümler
- Dahili iz tabanlı göz diyagramı seçeneği, aktif tarama güncellemeleri ile Zaman Alanı, S-Parametreleri ve Göz Diyagramı analizini görüntüleme yeteneği sağlar
- Üstün Dinamik Aralık – 142 dB’ye kadar
- Yüksek kullanılabilir güç – +14 dBm’ye kadar
- En iyi test portu karakteristik performansı – Yönlülükte 50 dB’ye kadar
- En iyi zaman alanı analizi
- MN4765B O/E Kalibrasyon modülü kullanılarak 850, 1060, 1310 ve 1550 nm dalga boylarında 70 kHz’den 40, 70 GHz ve 110 GHz’e kadar hızlı ve doğru optoelektronik ölçümler










